【48812】第七场研讨会 立异的FIBSEM薄片提取解决方案满意更高要求的TEM样品制备需求

来源:www.kaiyun..com    发布时间:2024-08-07 08:48:47      阅读:1

  曾在布尔诺理工大学、中欧技能研讨所和阿斯顿大学从事新资料开发和表征的作业。

  运用聚集离子束(FIB)是制备TEM样品并确保其质量的最佳办法。当今新型资料一日千里,咱们应该更先进的TEM样品制备办法才或许正真的确保真实观察到这些资料的细节。

  您将了解到纳米机械手在FIB/SEM样品室中的特别方位将怎么有助于立异的提取办法和提取特别的几许形状,这为TEM样品制备供给了新的或许性,也为进一步的研讨供给了新的时机。

  阐明:为了让更多的用户都能够参加到本次研讨会中,每一场研讨会都有两个时间段可供选,内容相同,与会者可自行挑选报上自己的名字去参加其间一个时间段的研讨会。

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