9月29日，第十一届全国FIB技能及学术沟通研讨会在立异港实践楼举行。会议开端，我国电镜学会聚集离子束专业委员会主任、西安交通大学资料学院院长单智伟教授回忆了FIB技能的开展前史及沟通研讨会的举行进程。
聚集离子束（Focused Ion Beam, FIB）凭仗其共同的微纳标准加工制作才能和优势，已成为很多科学技能研讨范畴不可或缺的重要东西之一，遭到渐渐的变多的重视。第一天的大会陈述中，共有来自西安交通大学、南京大学、哈尔滨工业大学、中科院近代物理研讨所、卡尔蔡司和上海微纳等全国闻名高校及企业的16位约请陈述人别离作陈述。
陈述内容紧扣聚集离子束在微纳样品制备、加工以及测验分析中的使用和立异。陈述人环绕聚集离子束在自己研讨范畴的使用状况提出该技能存在的问题，并说明处理问题的方法。陈述内容规划谨慎，层层分析，针对性强，令现场学者们收获颇丰。与会师生火热参加评论。
在第二天的会议日程中，来自北京大学、西安交通大学、上海交通大学、日立高新技能等国内闻名高校和世界有名的公司的多位学者作了精彩的陈述。
本次会议受我国电子显微镜学会FIB专业委员会托付，由西安交大金属资料强度国家重点实验室、西安交通大学资料科学与工程研讨院联合承办，旨在聚集国内外本范畴闻名科学家、研讨者和工程师，共享FIB技能的立异使用远景，研讨聚集离子束技能在资料科学、生命科学、物理学、地质学等范畴中的基础研讨和使用远景研讨。
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